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    MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)明場(chǎng)/PL檢測(cè)類型:明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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    MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)功能:

    檢測(cè)晶圓尺寸:4’

    測(cè)量uLED類型:RGB

    明場(chǎng)/PL檢測(cè)類型:明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析

    EL電學(xué)檢測(cè)項(xiàng)目:V-I曲線、IR1/IR2/IR3、VF1/VF2/VF3

    EL色度學(xué)檢測(cè)項(xiàng)目:Cx、Cy、WLD、EQE

    PL/AOI檢測(cè)速度:10min/pcs(4’)

    MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)EL檢測(cè)速度:1.5s/die to die

    大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù),致力于推動(dòng)光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì),是目前國(guó)內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù),超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測(cè)器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域,公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn),已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。

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