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    Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100抖動(dòng)消除:參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集;功率檢測(cè)范圍:50 nW-40 mW。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    訪問(wèn)量:1160
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    Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100主要技術(shù)指標(biāo):

    精密光學(xué)位移臺(tái)

    速度

    30mm/s

    最小分辨率

    0.1μm

    重復(fù)定位精度

    <2μm

    功率探測(cè)器


    測(cè)試波長(zhǎng)

    350-1700nm

    功率檢測(cè)范圍

    50nW-40mW

    抖動(dòng)消除

    參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集









    Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100應(yīng)用實(shí)例:

    實(shí)驗(yàn)條件

    樣品名稱

    單晶硅

    激發(fā)光波長(zhǎng)

    1030nm

    探測(cè)光波長(zhǎng)

    1030nm

    Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100

    大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù),致力于推動(dòng)光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜由一線專(zhuān)家?guī)ш?duì),是目前國(guó)內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù),超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測(cè)器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域,公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn),已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。

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