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    當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列SiC襯底位錯(cuò)缺陷無損檢測系統(tǒng)碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)

    碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介

    碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng):最高檢測速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識別。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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    碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)特點(diǎn):

    SiC襯底位錯(cuò)缺陷檢測專用設(shè)備

    光學(xué)非接觸無損檢測

    BPD、TSD、TED分類識別

    SiC襯底:4'/6'/8';導(dǎo)電、半絕緣

    碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)最高檢測速度:<17min/片(6")

    大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù),致力于推動光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì),是目前國內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù),超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域,公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn),已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。


     

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